未來(lái)已來(lái),高精度檢測(cè)怎么少得了高精度數(shù)顯高度計(jì)

3C電子產(chǎn)品中的蘋果手機(jī)，手機(jī)殼的尺寸公差要求不超過20μm，小配件公差則是2μm。

新莽時(shí)期我國(guó)發(fā)明了游標(biāo)卡尺，比十七世紀(jì)的歐洲發(fā)明早了1600年。后來(lái)出現(xiàn)的千分尺和千分表，精度能夠達(dá)到0.001mm（1μm），人類對(duì)尺寸的度量已經(jīng)很精細(xì)。但是這類量具測(cè)量效率低、誤差大、可以測(cè)量的工件尺寸有限。

隨著現(xiàn)代加工的發(fā)展，對(duì)于精度要求越來(lái)越高，如何做好品控，提高產(chǎn)品合格率，提升效率成為頭等問題。而這個(gè)問題的第一步則是如何確保測(cè)量的準(zhǔn)確和精度。東野儀器代理的Mikrometry數(shù)顯高度計(jì)采用了高精度傳感器和精密導(dǎo)軌，精度穩(wěn)定、手感順暢，快速測(cè)量時(shí)不跳數(shù)；顯示器采用綠色高亮度數(shù)碼管，顯示清晰，色彩柔和，長(zhǎng)時(shí)間使用操作者不易疲勞。臺(tái)架采用陶瓷作為測(cè)量基準(zhǔn)臺(tái)，精密耐用。